松井 文彦

領域 物理科学領域
コース 分子科学コース
基盤機関 分子科学研究所
学位 博士（理学）, 東京大学
職位 教授
キーワード 光電子運動量顕微鏡、放射光、スピン電子状態
外部リンク https://researchmap.jp/matui_IMS
https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060324977/

論文一覧（最新5件）

研究課題一覧（最新5件）

    • 軌道磁気量子数計測法の確立と低次元電子物性研究への応用
    • 2017-2020
    • キーワード: 光電子回折, 軌道角運動量, 電子状態, 光電子分光, 軌道磁気量子数, 表面原子構造, 電子分析器, 表面構造, 放射光, 共鳴光電子分光, 表面・界面物性, 電子物性, 非弾性散乱, 表面電子状態
    • URL: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-17H02911
    • 逆光電子回折現象を利用したバルク敏感性可変原子構造解析法の確立と応用（国際共同研究強化）
    • 2016-2017
    • キーワード: 光電子回折, Auger電子回折, 原子構造, 放射光・軟X線, 表面・界面, 非弾性散乱過程, 表面・界面物性, 電子分析器, 電子物性, 非弾性散乱
    • URL: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-15KK0167
    • 逆光電子回折現象を利用したバルク敏感性可変原子構造解析法の確立と応用
    • 2013-2016
    • キーワード: 光電子回折, Auger電子回折, 原子構造, 放射光・軟X線, 表面・界面, 非弾性散乱過程, 表面・界面構造, 表面・界面物性, Auger電子, 二次電子, 非弾性散乱, 電子分析器
    • URL: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-25287075
    • 光電子回折分光法による化合物半導体人工超格子の原子層分解電子状態解析
    • 2010-2011
    • キーワード: 光電子回折, Auger電子回折, 原子構造, 局所電子状態, 化合物半導体, 放射光・軟X線, 非弾性散乱過程, 表面・界面
    • URL: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22740200
    • 光電子運動量顕微鏡：UVSORでの拠点構築と展開
    • 著者: 松井 文彦, 牧田 誠二, 岡野 泰彬, 松田 博之, 解良 聡
    • 出版日: 2021/6/10
    • 出版社: 公益社団法人 日本表面真空学会
    • ジャーナル名: 表面と真空
    • キーワード: photoelectron momentum microscope, synchrotron radiation, soft x-ray, surface electronic structure
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1390288314620143104
    • Theory for High‐Angular‐Resolution Photoelectron Holograms Considering the Inelastic Mean Free Path and the Formation Mechanism of Quasi‐Kikuchi Band
    • 著者: Tomohiro Matsushita, Takayuki Muro, Takayoshi Yokoya, Kensei Terashima, Yukako Kato, Hirosuke Matsui, Naoyuki Maejima, Yusuke Hashimoto, Fumihiko Matsui
    • 出版日: 2020/7/23
    • 出版社: Wiley
    • ジャーナル名: physica status solidi (b)
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1360853567858432768
    • Graphene as reusable substrate for bialkali photocathodes
    • 著者: Lei Guo, Hisato Yamaguchi, Masahiro Yamamoto, Fumihiko Matsui, Gaoxue Wang, Fangze Liu, Ping Yang, Enrique R. Batista, Nathan A. Moody, Yoshifumi Takashima, Masahiro Katoh
    • 出版日: 2020/6/22
    • 出版社: AIP Publishing
    • ジャーナル名: Applied Physics Letters
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1360009142922694400
    • Photoelectron Momentum Microscope at BL6U of UVSOR-III synchrotron
    • 著者: Fumihiko Matsui, Seiji Makita, Hiroyuki Matsuda, Takayuki Yano, Eiken Nakamura, Kiyohisa Tanaka, Shigemasa Suga, Satoshi Kera
    • 出版日: 2020/5/21
    • 出版社: IOP Publishing
    • ジャーナル名: Japanese Journal of Applied Physics
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1360009142921510400
    • 90°-deflection imaging electron analyzer for measuring wide 2D angular distribution and perpendicular spin texture
    • 著者: Hiroyuki Matsuda, Fumihiko Matsui
    • 出版日: 20-Dec
    • 出版社: Elsevier BV
    • ジャーナル名: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1360572092873526400

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