田中 清尚

領域 物理科学領域
コース 分子科学コース
基盤機関 分子科学研究所
学位 博士（理学）, 東京大学
職位 准教授
外部リンク https://researchmap.jp/kiyohisa_tanaka/
https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060511003/
https://orcid.org/0000-0003-2779-5870
https://www.scopus.com/authid/detail.uri?authorId=57204125774

研究課題一覧（最新5件）

    • 電荷・スピンストライプ秩序相を有する高温超伝導体の電子構造
    • 2012-2014
    • キーワード: 銅酸化物高温超伝導体, 強相関電子系, テラヘルツ, 光学測定, 高温超伝導体, ストライプ秩序, 高温超伝導, 国際情報交換
    • URL: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-24740234
    • ARPES測定によるディラック電子系物質NiTe2のPd置換効果の研究
    • 著者: 金山 諄志, 吉野 健太郎, Tin Z. H., 中島 正道, 宮坂 茂樹, 田島 節子, 田中 清尚, 出田 真一郎
    • 出版日: 2020
    • 出版社: 一般社団法人 日本物理学会
    • ジャーナル名: 日本物理学会講演概要集
    • キーワード: ｄ電子系, その他の遷移金属化合物, 光電子分光, 新物質探索, トポロジカル物質
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1390290958089563264
    • 偏光可変レーザーを用いたスピン分解ARPES で見るTlBiSe2 表面状態のスピン軌道テクスチャー
    • 著者: 松丸 大樹, 黒田 健太, 野口 亮, 矢治 光一郎, 原沢 あゆみ, 中山 充大, Yan Binghai, 木村 昭夫, 出田 真一郎, 田中 清尚, 近藤 猛, 小森 文夫, 辛 埴
    • 出版日: 2018
    • 出版社: 一般社団法人 日本物理学会
    • ジャーナル名: 日本物理学会講演概要集
    • キーワード: 光電子分光・逆光電子分光, 表面・薄膜
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1390564238090984704
    • MnとTeを蒸着したBi2Te3 の電子構造とその温度依存性
    • 著者: 横山 喜一, 奥山 裕磨, 宮本 幸治, 出田 真一郎, 奥田 太一, 田中 清尚, 平原 徹
    • 出版日: 2018
    • 出版社: 一般社団法人 日本物理学会
    • ジャーナル名: 日本物理学会講演概要集
    • キーワード: トポロジカル表面, トポロジカル絶縁体, 分光
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282763112615040
    • 角度分解光電子分光で観測したPrFeAsO1-yの表面状態の超伝導ギャップ・擬ギャップ
    • 著者: 萩原 健太, 堀尾 眞史, 輿石 佳佑, 中田 勝, 林 春, 万 宇軒, 鈴木 雅弘, 石角 元志, 石田 茂之, 永崎 洋, 社本 真一, 出田 真一郎, 田中 清尚, 堀場 弘司, 小野 寛太, 組頭 広志, 吉田 鉄平, 藤森 淳
    • 出版日: 2018
    • 出版社: 一般社団法人 日本物理学会
    • ジャーナル名: 日本物理学会講演概要集
    • キーワード: ｄ電子系, 鉄系超伝導体, 光電子分光, 超伝導
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001288137658496
    • van der Waals強磁性体Cr2Ge2Te6及びFe3GeTe2のARPES
    • 著者: 鈴木 雅弘, Gao Bin, Solomon Alemayehu, 芝田 悟朗, 坂本 祥哉, 輿石 佳佑, 野中 洋亮, 池田 啓祐, 池 震棟, 中田 勝, 萩原 健太, 林 春, 万 宇軒, 堀場 弘司, 小野 寛太, 組頭 広志, 出田 真一郎, 田中 清尚, 小林 正起, Cheong Sang-Wook, 藤森 淳
    • 出版日: 2018
    • 出版社: 一般社団法人 日本物理学会
    • ジャーナル名: 日本物理学会講演概要集
    • キーワード: グラフェン関連・ディラック電子系, 実験, 層状・低次元物質, バンド構造
    • URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282763114265856

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