反保 元伸
| 領域 | 物理科学領域 |
|---|---|
| コース | 物質構造科学コース |
| 基盤機関 | 物質構造科学研究所 |
| 学位 | 博士（理学）, 大阪大学 |
| 職位 | 助教 |
| 外部リンク | https://researchmap.jp/read0133845 https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050630399/ |
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キーワード
イオン加速,超高強度レーザー,放射線物理,負ミュオン捕獲X線による非破壊元素分析
論文一覧（最新5件）
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- Measurement of radionuclide production probabilities in negative muon nuclear capture and validation of Monte Carlo simulation model
- DOI: 10.1016/j.nimb.2025.165801
- 出版年: 2025
- ジャーナル名: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS
- URL: https://researchmap.jp/read0133845/published_papers/52869249
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- Muon-Induced SEU Analysis and Simulation for Different Cell Types in 12-nm FinFET SRAMs, and 28-nm Planar SRAMs and Register Files
- DOI: 10.1109/tns.2025.3542468
- 出版社: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- 出版年: 2025
- ジャーナル名: IEEE Transactions on Nuclear Science
- URL: https://researchmap.jp/read0133845/published_papers/52546403
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- Detection of Metallic Li Deposition in a Laminated Li-Ion Battery Using Muonic X-rays
- DOI: 10.1021/acs.analchem.5c01735
- 出版社: American Chemical Society (ACS)
- 出版年: 2025
- ジャーナル名: Analytical Chemistry
- URL: https://researchmap.jp/read0133845/published_papers/52826323
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- Application of Hard X-Ray and Gamma-Ray TES Microcalorimeter at Accelerator Facility
- DOI: 10.1109/tasc.2024.3525445
- 出版社: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- 出版年: 2025
- ジャーナル名: IEEE Transactions on Applied Superconductivity
- URL: https://researchmap.jp/read0133845/published_papers/48954054
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- Negative muon beam status at the D-line of MUSE, J-PARC
- DOI: 10.1007/s10751-024-01877-2
- 出版社: Springer Science and Business Media LLC
- 出版年: 2024
- ジャーナル名: Interactions
- URL: https://researchmap.jp/read0133845/published_papers/46819275
CiNii Articles（最新５件）
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- Impact of Irradiation Side on Muon-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
- 著者: 鄧, 亦凡, 渡辺, 幸信, 真鍋, 征也, 廖, 望, 橋本, 昌宜, 安部, 晋一郎, 反保, 元伸, 三宅, 康博
- 出版日: 2024/3/18
- 出版社: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- ジャーナル名: IEEE Transactions on Nuclear Science
- キーワード: Accelerated testing, Geant4, irradiation side, Monte Carlo (MC) simulation, negative and positive muons, single-event upset (SEU), soft error rate (SER), static random-access memories (SRAMs), Mesons, Radiation effects, Single event upsets, Telescopes, SRAM chips, Particle beams, Monte Carlo methods
- URL: https://cir.nii.ac.jp/crid/1050585803064848128